Sabemos que os componentes eletrônicos se quente, mas compreender os detalhes finos de calor em uma característica do circuito de medição nanômetros é difícil.
Imageamento infravermelho depende de comprimentos de onda que são maiores que os recursos envolvidos, levando a uma baixa resolução. Tocando um local com uma (pequena) termômetro é de alta resolução, mas a sua precisão sofre porque algumas das fugas de calor no instrumento.
Boffins americanos estão divulgando uma nova abordagem dizem oferece alta resolução e alta precisão, usando um microscópio eletrônico de transmissão para mapear mudanças na densidade do dispositivo ou recurso - girando o dispositivo, como uma Universidade da Califórnia Los Angeles (UCLA) puts Declaração de enlatados que, em seu próprio termômetro.
A técnica, chamada plasmon expansão energética termometria (PEET), pode mapear temperaturas abaixo de um nanômetro, a UCLA explica .
Em seu papel para a Ciência (resumo aqui ), a UCLA e da Universidade do Sul da Califórnia pesquisadores demonstraram a sua capacidade para controlar o aquecimento de um fio de alumínio nano-escala aquecida em uma extremidade.
Baby, sentir o meu calor: medir a temperatura de um nanofio é mais difícil do que você pensa
"Eles se concentraram feixe de elétrons do microscópio para um ponto, ele digitalizado através do fio e mediu a energia dos feixes de elétrons, quando saíam do outro lado", os estados de libertação.
Parte da energia do feixe é usado criar plasmons, e que a perda de energia é proporcional à densidade do fio - e, em vez de ter apenas um número para a condutividade térmica do fio ", temos 10.000 números enquanto descemos o fio", diz UCLA físico e astrônomo Chris Regan, que liderou a pesquisa com Matthew Mecklenburg, primeiro autor do artigo.
Mecklenburg observa que os microscópios eletrônicos necessários já são usadas por designers de nível de silício para examinar características em seus produtos, para que eles possam usar a técnica para melhorar seus projetos sem ter que re-ferramenta.
A esperança é que, se os designers podem obter capturar os pequenos detalhes de como o calor é gerado em dispositivos de silício, eles podem controlar mais facilmente como o calor é gerado.
Isso, por sua vez, iria deixá-los a projetar circuitos que quer colocar mais recursos no mesmo espaço, ou executados em velocidades de clock mais rápido - sendo que ambos são principais fontes de aumento de calor em circuitos integrados. ®
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